原子力顯微鏡

原子力顯微鏡（AFM）或掃描力顯微鏡（SFM）係一種高解像度嘅掃描探針顯微鏡（SPM），佢嘅解像度比光學繞射極限高1000倍，可以去到納米級別嘅分辨率。

用原子力顯微鏡對玻璃表面進行拓撲掃描，可以觀察到玻璃微米和納米級別嘅特徵，展現了材料嘅粗糙程度。呢張相係（20微米×20微米×420納米）咁大嘅。

原理

AFM 包括一個懸臂梁同一支銳利嘅尖端（探針），用嚟睇哂成個樣本表嘅表面。懸臂梁通常係矽或矽氮化物，而尖端嘅半徑大概係納米級別。當探針靠近樣本表面，探針同樣本之間嘅力會據胡克定律令到懸臂梁彎曲。根據情況，AFM 測量嘅力包括機械接觸力、范德華力、毛細管作用力、化學鍵、靜電力、磁力（睇埋磁力顯微鏡，MFM）、卡西米爾力、溶劑化力等等。除了力之外，透過用特殊類型嘅探針（睇埋掃描熱顯微鏡、掃描焦耳膨脹顯微鏡、光熱微光譜學等），仲可以同時測埋其他嘅物理量。